Failure Analysis

La tecnica principe per l’analisi dei difetti dei materiali è rappresentata dalla microscopia elettronica a scansione (SEM) accoppiata alla microanalisi a dispersione di energia (EDS). Un moderno microscopio come quello in dotazione al laboratorio APM consente di osservare il campione ad elevati ingrandimenti (fino a 300.000 volte) e contestualmente di eseguire analisi chimiche (qualitative e quantitative) su porzioni molto piccole, anche inferiori al micron. Questo grazie alla microsonda a dispersione di energia (EDS) che sfrutta la fluorescenza a raggi X emessa dal campione in seguito al “bombardamento” con un fascio di elettroni opportunamente accelerati. Oltre all’analisi puntuale è possibile eseguire scansioni, profili di concentrazione e mappe a colori che permettono di vedere come i vari elementi sono distribuiti sulla superficie del campione.